精密lcr測試儀?高速測量2ms?能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷?對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能?3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試?3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

LCR測試儀 ?高速測量2ms ?能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 ?對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ?3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ?3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

LCR測試儀 ?高速測量2ms ?能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 ?對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ?3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ?3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

阻抗分析儀 ?測量頻率：1MHz~1.3GHz ?測量時間：Z快0.5ms（模擬測量時間） ?測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值） ?基本精度：±0.65% rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

阻抗分析儀 ?測量頻率：1MHz~600MHz ?測量時間：Z快0.5ms（模擬測量時間） ?基本精度：±0.65% rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

阻抗分析儀 ?測量頻率1MHz~300MHz ?測量時間：Z快0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

阻抗分析儀 ?測量頻率1MHz~300MHz ?測量時間：Z快0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

阻抗分析儀 ?適用于離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號源 ?1臺機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續(xù)測量和高速檢查 ?可測量電池的無負載狀態(tài)產生的內部電阻 ?Z快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化 ?基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發(fā)測量均可對應 適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻（LCR）測量